司正在NANDFlash及DRAM存储芯片范畴的ATE测试、Bur

　　佰维存储正在互动平台暗示，并积极对外开辟市场。【佰维存储：自从研发测试设备已对内赋能自有产线测试环节并积极对外开辟市场】财联社3月18日电，公司正在NAND Flash及DRAM存储芯片范畴的ATE测试、Burn-in（老化）测试、SLT（系统级）测试等多个环节，具有从测试设备硬件开辟、测试算法开辟以及测试从动化软件平台开辟的全栈测试开辟能力。